Mustererkennung 2000: 22. DAGM-Symposium. Kiel, 13.–15. September 2000
Mustererkennung 2000: 22. DAGM-Symposium. Kiel, 13.–15. September 2000 By N. Navab, M. Appel, Y. Genc, B. Bascle, V. Kumar, M. Neuberger (auth.), Gerald Sommer, Norbert Krüger, Christian Perwass (eds.)
2000 | 490 Pages | ISBN: 3540678867 | PDF | 29 MB
2000 | 490 Pages | ISBN: 3540678867 | PDF | 29 MB
Die Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung veranstaltet seit 1978 jährlich an verschiedenen Orten ein wissenschaftliches Symposium mit dem Ziel, Aufgabenstellungen, Denkweisen und Forschungsergebnisse aus den Gebieten der Mustererkennung vorzustellen, den Erfahrungs- und Ideenaustausch zwischen den Fachleuten anzuregen und den Nachwuchs zu fördern.In dem dieses Jahr erstmals durchgeführten Kontaktforum unter dem Titel "Forum Industrie und Wissenschaft" findet der Austausch von Industrie und Wirtschaft besondere Beachtung.